Mikrocharakterisierung und Werkstoffverhalten
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Vorbesprechung der Veranstaltungen WW 7 [VorbesprWW7]
SL; Einzeltermin am 11.4.2005, 14:30 - 15:00, 1.225
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Strunk, H.P.
Alle Assistenten
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Elektronenmikroskopische Analysen- und Meßtechnik [ElMik-Methoden]
VORL; 2 SWS; ECTS: 3; Zeit n.V., 1.225
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Strunk, H.P.
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Übungen zu "Elektronenmikroskopische Analysen- und Meßtechnik" [ElMik_Üb]
UE; 2 SWS; Schein; ECTS: 3; Zeit n.V., 1.225; Einzeltermine nV in der Vorlesung
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Strunk, H.P.
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Technologie grenzflächendominierter Werkstoffe [TechnoGrenzflWst]
VORL; 2 SWS; ECTS: 3; Zeit n.V., 1.225
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Strunk, H.P.
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Ausgewählte Kapitel der Elektronenmikroskopie II (EDS, EELS) [AusgKapitelEM_II]
VORL; 1 SWS; Schein; ECTS: 1,5; BLOCK-Vorlesung; Mi, 9:00 - 10:30, 1.225; vom 22.6.2005 bis zum 6.7.2005
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Frank, G.
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Ausgewählte Kapitel der Elektronenmikroskopie III (Kathodolumineszenz) [AusgKapitelEM_III]
VORL; 1 SWS; Schein; ECTS: 1,5; BLOCK-Vorlesung; Wahlveranstaltung; Zeit n.V., 1.225
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N.N.
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Quantenmechanik in den Werkstoffwissenschaften I [QuantM1WW]
VORL; 1 SWS; ECTS: 1,5; BLOCK-Vorlesung; Mi, 14:00 - 15:30, 1.225
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N.N.
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Kernfach-Seminar "Mikrocharakterisierung und Werkstoffverhalten" [KFSem_WW7]
HS; 2 SWS; Schein; ECTS: 3; Di, 15:30 - 17:00, 1.225; Termine und Themen nach Aushang
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Strunk, H.P.
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