Advanced Processes (AP)

	Process Technologies [PT] VORL; 2 cred.h; certificate; ECTS: 5,0; Tue, 14:15 - 15:45, EE 0.135				PF MAP-S-AP 2	Freund, H. Kaspereit, M. Freitag, D.
	seminar to production process UE; 1 cred.h; certificate; Fri, 10:15 - 11:45, KS II				PF MAP-S-AP 2	Kaiser, M. Freitag, D. Kaspereit, M. Freund, H.
	Reactors [React] VORL; 1 cred.h; ECTS: 1,5; starts 18 May, eventually in a digital format, if the situation does not allow face-to-face lectures; Mon, 10:15 - 11:45, 0.85; starting 18.5.2020				PF MAP-S-AP 2	Datsevich, L.
	Thin films: processing, characterization and functionalities. VORL; 1 cred.h; ben. certificate; ECTS: 1,5; findet aus aktuellem Anlass mittels Zoom-Live-Übertragung statt. Anmeldung im StudOn ist erforderlich. Zugangsdaten zu ZOOM werden über StudOn mitgeteilt.; Mon, 12:15 - 13:45, Raum n.V.; starting 27.4.2020; Preliminary meeting: 21.4.2020, 14:00 - 15:00 Uhr				PF MAP-S-AP 2	Egelhaaf, H.-J.
	Separation Science and Technology (Specialization Subject) [TVT II] VORL; 3 cred.h; ECTS: 5; Thu, 12:15 - 13:45, H6; Die Vorlesung wird online stattfinden, bis eine Präsenzlehre wieder möglich sein wird. Nähere Informationen zur Vorlesung werden über das entsprechende StudOn Portal vermittelt. Wir bitten Sie, sich daher möglichst bis zum 20.04.20 im StudOn Portal anzumelden.				PF MAP-S-AP 2	Thommes, M. Freitag, D. Müller, K.
	Exercises in Separation Processes (Specialization Course) V/UE; 1 cred.h; Thu, 14:15 - 15:45, KS I				PF MAP-S-AP 2	Thommes, M. Drescher, M. Kriesten, M.
	Thin films: processing, characterization and functionalities (Extension) VORL; 1 cred.h; ben. certificate; ECTS: 1; Vertiefung zur VL Thin films: processing, characterization and functionalities, findet über ZOOM statt.; die VL findet montags, 12:15 - 13:45 statt; Preliminary meeting: 21.4.2020, 14:00 - 15:00 Uhr				WPF MAP-S-AP ab 2	Egelhaaf, H.-J.