| Teststrategien für die Sicherheitselektronik der Zukunft Testfallselektion und -priorisierung in frühen Entwicklungsstadien über Komponentenabhängikeitsgraphen. | Projektleitung:
Luchscheider, Philipp
Stichwörter:
Testfallselektion
Laufzeit: 1.1.2010 - 1.1.2013
Mitwirkende Institutionen:
INI.FAU
Kontakt:
German, Reinhard
Telefon +49 9131 85 27916, Fax +49 9131 85 27409, E-Mail: reinhard.german@fau.de
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