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Strenger, Christian ; Uhnevionak, V. ; Mortet, V. ; Ortiz, G. ; Erlbacher, Tobias ; Burenkov, A. ; Bauer, Anton ; Cristiano, F. ; Bedel-Perreira, E. ; Pichler, Peter ; Ryssel, Heiner ; Frey, Lothar:
Systematic Analysis of the High- and Low-Field Channel Mobility in Lateral 4H-SiC MOSFETs.
In: Materials Science Forum (2014), S. 778-780, 583-586
[doi>10.4028/www.scientific.net/MSF.778-780.583]
Institution: Lehrstuhl für Elektronische Bauelemente
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