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Darstellung   Druckansicht      Außerdem im UnivIS   Vorlesungs- und Modulverzeichnis nach Studiengängen Vorlesungsverzeichnis     Veranstaltungskalender Stellenangebote Möbel-/Rechnerbörse	Strenger, Christian ; Häublein, V. ; Erlbacher, T. ; Bauer, A.J. ; Ryssel, Heiner ; Beltran, A.M. ; Schamm-Chardon, S. ; Mortet, V. ; Bedel-Pereira, E. ; Lefebvre, M. ; Cristiano, F.: Comparative study of electrical and microstructural properties of 4H-SiC MOSFETs. In: Materials Science Forum 717-720 (2012), S. 437-440 Institution: Lehrstuhl für Elektronische Bauelemente UnivIS ist ein Produkt der Config eG, Buckenhof