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Darstellung   Druckansicht      Außerdem im UnivIS   Vorlesungs- und Modulverzeichnis nach Studiengängen Vorlesungsverzeichnis     Veranstaltungskalender Stellenangebote Möbel-/Rechnerbörse	Burenkov, A. ; Sekowski, Matthias ; Belko, V. ; Ryssel, Heiner: Angular distributions of sputtered silicon at grazing gallium ion beam incidence. In: Nuclear Instruments and Methods in Physics Research, Section B: Beam Interactions with Materials and Atoms 272 (2012), S. 23-27 Institution: Lehrstuhl für Elektronische Bauelemente UnivIS ist ein Produkt der Config eG, Buckenhof