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Darstellung   Druckansicht      Außerdem im UnivIS   Vorlesungs- und Modulverzeichnis nach Studiengängen Vorlesungsverzeichnis     Veranstaltungskalender Stellenangebote Möbel-/Rechnerbörse	Le-Huu, M. ; Schmitt, H. ; Noll, S. ; Grieb, M. ; Schrey, F.F. ; Bauer, A. J. ; Frey, Lothar ; Ryssel, Heiner: Investigation of the reliability of 4H–SiC MOS devices for high temperature applications. In: Microelectronics Reliability 51 (2011), Nr. 8, S. 1346-1350 Institution: Lehrstuhl für Elektronische Bauelemente UnivIS ist ein Produkt der Config eG, Buckenhof