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Walther, Sabine ; Schäfer, Stefan ; Jank, Michael ; Heiko Thiem ; Peukert, Wolfgang ; Frey, Lothar ; Ryssel, Heiner:
Influence of annealing temperature and measurement ambient on TFTs based on gas phase synthesized ZnO nanoparticles.
In: Microelectronic Engineering 87 (2010), Nr. 11, S. 2312-2316
[doi>10.1016/j.mee.2010.03.009]

Institution: Lehrstuhl für Elektronische Bauelemente
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