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Schindele, David
;
Pichler, Peter
; J. Lorenz ; P. Oesterlin ;
Ryssel, Heiner
:
Defects formed by pulsed laser annealing: electrical properties and depth profiles in n-type silicon measured by DLTS
.
Vortrag: EMRS Spring Meeting 2010,
Strasbourg, 07.06.2010
Institution:
Lehrstuhl für Elektronische Bauelemente
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