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Schindele, David ; Pichler, Peter ; J. Lorenz ; P. Oesterlin ; Ryssel, Heiner:
Defects formed by pulsed laser annealing: electrical properties and depth profiles in n-type silicon measured by DLTS.
Vortrag: EMRS Spring Meeting 2010,
Strasbourg, 07.06.2010

Institution: Lehrstuhl für Elektronische Bauelemente
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