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Erlbacher, Tobias ; Graf, T. ; DasGupta, N. ; Bauer, A. J. ; Ryssel, Heiner:
Suppression of Parasitic Electron Injection in SONOS type Memory Cells Using High k Capping Layers.
Vortrag: Poster Presentation at the Workshop on Dielectrics in Microelectronics (WODIM),
Bad Saarow, 23-25.06.2008

Institution: Lehrstuhl für Elektronische Bauelemente
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