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Erlbacher, Tobias ; Graf, Thomas ; DasGupta, Nandita ; Bauer, Anton J. ; Ryssel, Heiner:
Suppression of parasitic electron injection in SONOS-type memory cells using high-k capping layers.
In: Müssig, Hans-Joachim (Veranst.):
Workshop on Dielectrics in Microelectronics 2008
(Workshop on Dielectrics in Microelectronics, Bad Saarow, 22-25.06.2008).
2008, S. 145-146.

Institution: Lehrstuhl für Elektronische Bauelemente
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