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Kampen, C. ; Burenkov, A. ; Lorenz, Jürgen ; Ryssel, Heiner ; Aubry-Fortuna, V. ; Bournel, A.:
An Application-driven Improvement of the Drift-Diffusion Model for Carrier Transport in Decanano-scaled CMOS Devices.
In: IEEE Transactions on Electron Devices 55 (2008), Nr. 11, S. 3227
[doi>10.1109/TED.2008.2004474]

Institution: Lehrstuhl für Elektronische Bauelemente
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