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Kampen, C. ; Burenkov, A. ;
Lorenz, Jürgen
;
Ryssel, Heiner
; Aubry-Fortuna, V. ; Bournel, A.
:
An Application-driven Improvement of the Drift-Diffusion Model for Carrier Transport in Decanano-scaled CMOS Devices
.
In:
IEEE Transactions on Electron Devices
55 (2008), Nr. 11, S. 3227
[doi>
10.1109/TED.2008.2004474
]
Institution:
Lehrstuhl für Elektronische Bauelemente
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