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Kampen, C. ; Martinez-Limia, A. ; Pichler, Peter ; Burenkov, A. ; Lorenz, Jürgen ; Ryssel, Heiner:
Advanced Annealing Strategies for the 32 nm Node.
In: - (Hrsg.) : SISPAD 2008
(International Conference on Simulation of Semiconductor Processes and Devices, Hakone, Japan, 09-11.09.2008).
- : IEEE, 2008. - ISBN 978-1-4244-1753-7
[doi>10.1109/SISPAD.2008.4648301]
Institution: Lehrstuhl für Elektronische Bauelemente
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