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Rommel, Mathias ; Bauer, Anton ;
Ryssel, Heiner
:
Detailed Photocurrent Analysis of Iron Contaminated Boron Doped Silicon by Comparison of Simulation and Measurement
.
In:
ECS Transactions
10 (2007), Nr. 1, S. 117
[doi>
10.1149/1.2773982
]
Institution:
Lehrstuhl für Elektronische Bauelemente
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