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Darstellung   Druckansicht      Außerdem im UnivIS   Vorlesungs- und Modulverzeichnis nach Studiengängen Vorlesungsverzeichnis     Veranstaltungskalender Stellenangebote Möbel-/Rechnerbörse	Steen, Christian ; Nutsch, Andreas ; Pichler, Peter ; Ryssel, Heiner: Characterization of the impurity profile at the SiO2/Si interface using a combination of total reflection X-ray fluorescence spectrometry and successive etching of silicon,. In: Spectrochimica Acta Part B: Atomic Spectroscopy 62 (2007), Nr. 5, S. 481-484 [doi>10.1016/j.sab.2007.04.010] Institution: Lehrstuhl für Elektronische Bauelemente UnivIS ist ein Produkt der Config eG, Buckenhof