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Steen, Christian ; Martinez-Lima, A. ; Pichler, Peter ; Ryssel, Heiner ; Pei, L. ; Duscher, G. ; Windl, W.:
Characterization of the Pile-Up of As at the SiO2/Si Interface.
In: - (Hrsg.) : Proceedings of the 37th European Solid-State Device Research Conference
(37th European Solid-State Device Research Conference - ESSDERC 2007, München, 11.-13.09.2007).
2007, S. 267. - ISBN 1-4244-1123-8
Institution: Lehrstuhl für Elektronische Bauelemente
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