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Jank, Michael ; Kandziora, Christoph ; Frey, Lothar ; Ryssel, Heiner:
Well Design in a Bulk CMOS Technology with Low Mask Count.
In: Kirkby, K.J.: (Hrsg.) : Ion Implantation Technology
(2006 16th International Conference on Ion Implantation Technology, Marseille, 11.-16. Juni 2006).
2006, S. 121-124.

Institution: Lehrstuhl für Elektronische Bauelemente
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