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Darstellung   Druckansicht      Außerdem im UnivIS   Vorlesungs- und Modulverzeichnis nach Studiengängen Vorlesungsverzeichnis     Veranstaltungskalender Stellenangebote Möbel-/Rechnerbörse	Rommel, Mathias ; Groß, Michael ; Frey, Lothar ; Bauer, Anton ; Ryssel, Heiner: Wafer Scale Characterization of Interface State Densities Without Test Structures by Photocurrent Analysis. In: Electrochemical Society Proceedings, 10 (2005), S. 113 Institution: Lehrstuhl für Elektronische Bauelemente UnivIS ist ein Produkt der Config eG, Buckenhof