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Rommel, Mathias ; Groß, Michael ; Ettinger, Anke ; Lemberger, Martin ; Bauer, Anton ; Frey, Lothar ; Ryssel, Heiner:
Characterization of Interface State Denisties by Photocurrent Analysis: Comparison of Results for Different Insulator Layers.
Vortrag: Poster Presentation, Conference on Insulating Fillms on Semiconductors (INFOS) 2005,
Leuven, Belgium, 22. - 24. Juni.2005
Institution: Lehrstuhl für Elektronische Bauelemente
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UnivIS ist ein Produkt der Config eG, Buckenhof |
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