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Darstellung   Druckansicht      Außerdem im UnivIS   Vorlesungs- und Modulverzeichnis nach Studiengängen Vorlesungsverzeichnis     Veranstaltungskalender Stellenangebote Möbel-/Rechnerbörse	Steen, Christian ; Nutsch, Andreas ; Pichler, Peter ; Ryssel, Heiner: Characterisation of the Impurity Profile at the Interface SiO2/ Si Using a Combination of Total Reflection X-Ray Fluorescence Spectrometry and Successive Etching of Silicon. Vortrag: 11th Conference on Total Reflection X-Ray Fluorescence Analysis and Related Methods (TXRF 2005), Budapest, Hungary, 18. - 22. September.2005 Institution: Lehrstuhl für Elektronische Bauelemente UnivIS ist ein Produkt der Config eG, Buckenhof