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Darstellung   Druckansicht      Außerdem im UnivIS   Vorlesungs- und Modulverzeichnis nach Studiengängen Vorlesungsverzeichnis     Veranstaltungskalender Stellenangebote Möbel-/Rechnerbörse	Rommel, Mathias ; Groß, Michael ; Ettinger, A. ; Lemberger, Martin ; Bauer, Anton ; Frey, Lothar ; Ryssel, Heiner: Characterization of Interface State Densities by Photocurrent Analysis: Comparison of Results for Different Insulator Layers. In: Microelectronic Engineering 80 (2005), S. 50-53 [doi>10.1016/j.mee.2005.04.042] Institution: Lehrstuhl für Elektronische Bauelemente UnivIS ist ein Produkt der Config eG, Buckenhof