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Darstellung   Druckansicht      Außerdem im UnivIS   Vorlesungs- und Modulverzeichnis nach Studiengängen Vorlesungsverzeichnis     Veranstaltungskalender Stellenangebote Möbel-/Rechnerbörse	Lehrer, Christoph ; Frey, Lothar ; Petersen, Silke ; Ryssel, Heiner ; Schäfer, Martin ; Sulzbach, T.: Integration of Field Emitters into Scanning Probe Microscopy Sensors Using Focused Ion and Electron Beams. In: Journal of Vacuum Science and Technology B: Microelectronics and Nanometer Structures 22 (2004), Nr. 3, S. 1402 [doi>10.1116/1.1689310] Institution: Lehrstuhl für Elektronische Bauelemente UnivIS ist ein Produkt der Config eG, Buckenhof