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Weiß, Roland ; Frey, Lothar ; Ryssel, Heiner (Hrsg.):
Modelling of the Influence of the Schottky Barrier Inhomogeneities on SiC Diode Characteristics.
(International Conference on Silicon Carbide and Related Materials (ICSCRM 2003) Lyon (Frankreich) 2003)
2003.
- - Seiten.
Institution: Lehrstuhl für Elektronische Bauelemente
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