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Rambach, Martin ; Weiß, Roland ; Frey, Lothar ; Bauer, Anton ; Ryssel, Heiner (Hrsg.):
Investigation of Rapid Thermal Annealed p-n Junctions in SiC.
(International Conference on Silicon Carbide and Related Materials (ICSCRM 2003) Lyon (Frankreich) 05.-10.10.)
2003

Institution: Lehrstuhl für Elektronische Bauelemente
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