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Darstellung   Druckansicht      Außerdem im UnivIS   Vorlesungs- und Modulverzeichnis nach Studiengängen Vorlesungsverzeichnis     Veranstaltungskalender Stellenangebote Möbel-/Rechnerbörse	Boubekeur, H. ; Mikolajick, T. ; Bauer, Anton ; Frey, Lothar ; Ryssel, Heiner: Effect of Barium Contamination on Gate Oxide Integrity in High-k DRAM. In: Journal of Non-Crystalline Solids 303 (2002), Nr. 1, S. 12 [doi>10.1016/S0022-3093(02)00957-2] Institution: Lehrstuhl für Elektronische Bauelemente UnivIS ist ein Produkt der Config eG, Buckenhof