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Rommel, Mathias ; Zoth, G. ; Ullrich, M. ; Ryssel, Heiner:
Recombination lifetimes of iron contaminated silicon wafers: Characterization through a single set of capture cross-sections.
In: V. Raineri, F. Priolo, M. Kittler, H. Richter), (Hrsg.) : Proceedings of the 9th International Autumn Meeting "Gettering and Defect Engineering in Semiconductor Technology
(GADEST 2001, S. Tecla (Italien, 30. September - 3. Oktober 2001).
2001, S. 373-380.
Institution: Lehrstuhl für Elektronische Bauelemente
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