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Darstellung   Druckansicht      Außerdem im UnivIS   Vorlesungs- und Modulverzeichnis nach Studiengängen Vorlesungsverzeichnis     Veranstaltungskalender Stellenangebote Möbel-/Rechnerbörse	Jank, Michael ; Lemberger, Martin ; Bauer, A. ; Frey, Lothar ; Ryssel, Heiner: Electrical reliability aspects of through the gate implanted MOS structures with thin oxides. In: Microelectronics Reliability 41 (2001), Nr. 7, S. 987-990 Institution: Lehrstuhl für Elektronische Bauelemente UnivIS ist ein Produkt der Config eG, Buckenhof