Boubekeur, H. ; Mikolajick, T. ; Höpfner, J. ; Dehm, C. ; Palmer, W. ; Steiner, J. ; Kilian, G. ; Kolbesen, B. ; Bauer, Anton ; Frey, Lothar ; Ryssel, Heiner:
Barium, Strontium and Bismuth Contamination in CMOS Processes.
In: Solid State Phenomena (2001), Nr. 76 - 77, S. 9-14
Institution: Lehrstuhl für Elektronische Bauelemente
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