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Darstellung   Druckansicht      Außerdem im UnivIS   Vorlesungs- und Modulverzeichnis nach Studiengängen Vorlesungsverzeichnis     Veranstaltungskalender Stellenangebote Möbel-/Rechnerbörse	Häublein, V ; Weiss, R. ; Frey, Lothar ; Ryssel, Heiner: Monte Carlo Simulation and Modeling of Ion Implantation Induced Contamination Profiles. In: IEEE (Hrsg.) : Ion Implantation Technology 2000 (Ion Implantation Technology 2000, Alpbach, 17.-22 Sep 2000). 2000. - ISBN 0-7803-6462-7 [doi>10.1109/.2000.924247] Institution: Lehrstuhl für Elektronische Bauelemente UnivIS ist ein Produkt der Config eG, Buckenhof