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Krause, Oliver ; Pichler, Peter ; Ryssel, Heiner: Modelling of Intrinsic Aluminum Diffusion for Future Power Devices. In: Lane, W. ; Grean, G. ; McCabe, F. ; Grünbacher, H. (Hrsg.) : Proceedings 30th European Solid State Device Research Conference (30th European Solid State Device Research Conference, Cork, Irland, 11.-13.09.2000). 2000, S. 176-179. - ISBN 2-86332-248-6
Institution: Lehrstuhl für Elektronische Bauelemente
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