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Elektrotechnik, Elektronik und Informationstechnik (Master of Science) >>

Praktikum Test (PrTEST)2.5 ECTS
(englische Bezeichnung: Laboratory Test)
(Prüfungsordnungsmodul: Hauptseminar und Laborpraktikum Mikroelektronik)

Modulverantwortliche/r: Sebastian M. Sattler
Lehrende: Sebastian M. Sattler


Start semester: WS 2017/2018Duration: 1 semesterCycle: halbjährlich (WS+SS)
Präsenzzeit: 60 Std.Eigenstudium: 15 Std.Language: Deutsch

Lectures:


Empfohlene Voraussetzungen:

It is recommended to finish the following modules before starting this module:

Industrielle Testanwendungen für Integrierte Schaltungen und Systeme (SS 2017)
Testfreundlicher Schaltungsentwurf (Design-for-Test) (WS 2016/2017)
Entwurf Integrierter Schaltungen I (WS 2016/2017)
Test Integrierter Schaltungen (SS 2016)


Inhalt:

Im Entwicklungsprozess elektronischer Bauteile wie auch bei deren Massenproduktion werden mit Hilfe automatischer Testsysteme die elektrischen Kenngrößen eines Bauteils erfasst. Das Praktikum „Testen mit automatischen Testsystemen“ gibt einen Einblick in typische messtechnische Aufgabenstellungen und Arbeiten, die während der Entwicklung integrierter mikroelektronischer Systeme vorkommen.

Lernziele und Kompetenzen:

FACHKOMPETENZ
Verstehen

  • beschreiben die Abläufe im Laborbetrieb und erläutern die Eigenschaften eines Testsystems

  • erklären die Elemente eines Testprogramms

  • formulieren die verschiedenen Möglichkeiten von Test (Funktionstest, Dynamischer Test)

  • erläutern die Entwicklung von Test-Pattern

Analysieren

  • analysieren das DUT und entwickeln daraus die richtige Auswahl an Testparametern

Erschaffen

  • entwerfen Test-Pattern für den Boundary-Scan-Test

  • erstellen aus gegebener Aufgabenstellung komplettes Testprogramm

  • beurteilen des Testprogramms unter Berücksichtigung von Produktivität und Debugging

LERN- BZW. METHODENKOMPETENZ

  • erwerben praktische Erfahrungen im Umgang mit einem automatischen Testsystem (ATE)

  • erfahren die Arbeitsumgebung in einem Reinraum-Labor und die sich daraus ergebenen Vorschriften

SELBSTKOMPETENZ

  • können in Gruppen kooperativ arbeiten und Fehleranalysen durchführen

Bemerkung:

Blockpraktikum


Weitere Informationen:

Keywords: Test, ASIC, CMOS, Produktionstest

Verwendbarkeit des Moduls / Einpassung in den Musterstudienplan:

  1. Elektrotechnik, Elektronik und Informationstechnik (Master of Science)
    (Po-Vers. 2015s | TechFak | Elektrotechnik, Elektronik und Informationstechnik (Master of Science) | Masterprüfung | Studienrichtung Mikroelektronik | Hauptseminar und Laborpraktikum Mikroelektronik)
Dieses Modul ist daneben auch in den Studienfächern "Elektrotechnik, Elektronik und Informationstechnik (Bachelor of Science)" verwendbar. Details

Studien-/Prüfungsleistungen:

Praktikum Test (Prüfungsnummer: 320376)
Studienleistung, Praktikumsleistung, unbenotet
weitere Erläuterungen:
  • Teilnahme am Vorbereitungskurs JTAG, 1 Woche vor Beginn des Praktikums
  • häusliche Vorbereitung auf das Praktikum anhand der Versuchsbeschreibungen

  • Auswertung und Interpretation der Testergebnisse

  • Präsentation der Testergebnisse

Erstablegung: WS 2017/2018, 1. Wdh.: SS 2018
1. Prüfer: Sebastian M. Sattler

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