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Seminar Messen, Charakterisieren und Prüfen in der Elektronikfertigung (SemMCP)2.5 ECTS
(englische Bezeichnung: Seminar Measurement, Characterization and Testing in Electronic Systems Production)
Modulverantwortliche/r: Klaus Helmreich
Lehrende:
Klaus Helmreich, Gerald Gold, Mark Sippel, Konstantin Lomakin
| Startsemester: |
SS 2017 | Dauer: |
1 Semester | Turnus: |
jährlich (SS) |
| Präsenzzeit: |
30 Std. | Eigenstudium: |
45 Std. | Sprache: |
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Lehrveranstaltungen:
Inhalt:
Aktuelle Fragestellungen zu Meß- und Prüfverfahren in der Elektronikfertigung
Lernziele und Kompetenzen:
Die Teilnehmer
erwerben die Fähigkeit, sich selbständig Kenntnisse zu einem speziellen Teilgebiet aus dem Seminargegenstand duch Auswertung bereitgestellter oder selbst recherchierter Literatur zu erarbeiten, diese in einer schriftlichen Ausarbeitung zusammenzufassen und in einem Vortrag zu präsentieren lernen dabei Erfordernisse, aktuelle Fragestellungen, Stand der Technik und neue Lösungsansätze für die jeweilige Fragestellung kennen
Bemerkung:
Anmeldung und Information: per e-mail an einen der Dozenten
Weitere Informationen:
Schlüsselwörter: Entwurf, Test, Charakterisierung, Messen, Leiterplatten, Schaltungen
Studien-/Prüfungsleistungen:
Seminar "Messen, Charakterisieren und Prüfen in der Elektronikfertigung (SemMCP) " (Prüfungsnummer: 800759)(englischer Titel: Seminar "Measurement, Characterization and Test in Electronic Systems Manufacturing")
- Seminararbeit+Vortrag, Dauer (in Minuten): 30, benotet
- Prüfungssprache: Deutsch oder Englisch
- Erstablegung: SS 2017
| 1. Prüfer: | Klaus Helmreich |
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