|
|
Nanotechnologie (Master of Science) >>
|
Rasterelektronenmikroskopie in Materialforschung und Nanotechnologie (REM_WW9)- Dozentinnen/Dozenten
- Prof. Dr. rer. nat. habil. Erdmann Spiecker, Peter Schweizer, M. Sc.
- Angaben
- Vorlesung
2 SWS, ECTS-Studium, ECTS-Credits: 3, Sprache Deutsch
Zeit und Ort: Mo 12:15 - 13:45, 3.31, Martensstr. 5
ab 22.10.2018
- Studienfächer / Studienrichtungen
- WPF MWT-MA-MNF ab 1
WPF NT-MA ab 1
WF MWT-MA-EL ab 1
WPF MWT-MA-AWE ab 1
- Inhalt
- • Komponenten eines REM
• Elastische/inelastische Wechselwirkung Elektron-Probe,
Wechselwirkungsvolumen, Sekundär-/Rückstreuelektronenerzeugung
• Kontrastmechanismen mit Bezug auf die verschiedenen Detektorsysteme
• Elektronenbeugung und ihre Anwendung im REM
• Rastertransmissionsmikroskopie (STEM)
• Quantitative Röntgenspektroskopie
• Fokussierte Ionenstrahlen (Dual-Beam FIB, He-Ionenmikroskopie)
• Präparationsspezifische Probleme
• Anwendungsbeispiele
- ECTS-Informationen:
- Credits: 3
- Zusätzliche Informationen
- Erwartete Teilnehmerzahl: 15, Maximale Teilnehmerzahl: 30
- Verwendung in folgenden UnivIS-Modulen
- Startsemester WS 2018/2019:
- Kernfach Mikro- und Nanostrukturforschung für MWT (MNF_M1_MWT)
- Kernfach Mikro- und Nanostrukturforschung für NT (MNF_M6_NT)
- Kernfachmodul Allgemeine Werkstoffeigenschaften (M1-MWT-WW1/M6-NT-WW1)
- Nebenfach Mikro- und Nanostrukturforschung für MWT (MNF_M2/M3_MWT)
- Nebenfach Mikro- und Nanostrukturforschung für NT (MNF_M7_NT)
- Institution: Lehrstuhl für Werkstoffwissenschaften (Mikro- und Nanostrukturforschung)
|
 |
|
|
UnivIS ist ein Produkt der Config eG, Buckenhof |
|
|