UnivIS
Informationssystem der Friedrich-Alexander-Universität Erlangen-Nürnberg © Config eG 
FAU Logo
  Sammlung/Stundenplan    Modulbelegung Home  |  Rechtliches  |  Kontakt  |  Hilfe    
Suche:      Semester:   
 
 Darstellung
 
Druckansicht

 
 
 Außerdem im UnivIS
 
Vorlesungs- und Modulverzeichnis nach Studiengängen

Vorlesungsverzeichnis

 
 
Veranstaltungskalender

Stellenangebote

Möbel-/Rechnerbörse

 
 
Nanotechnologie (Master of Science) >>

  Thin films: processing, characterization and functionalities (Extension)

Dozent/in
Dr. Hans-Joachim Egelhaaf

Angaben
Vorlesung
1 SWS, benoteter Schein, ECTS-Studium, ECTS-Credits: 1, Sprache Deutsch und Englisch, Vertiefung zur VL Thin films: processing, characterization and functionalities
Zeit und Ort: n.V.; Bemerkung zu Zeit und Ort: bitte Dr. Egelhaaf oder Dr. Batentschuk kontaktieren

Studienfächer / Studienrichtungen
WF MWT-MA-WET ab 2 (ECTS-Credits: 1)
WF ET-MA ab 2 (ECTS-Credits: 1)
WF NT-MA ab 2 (ECTS-Credits: 1)
WPF MAP-S-AP ab 2 (ECTS-Credits: 1)

ECTS-Informationen:
Credits: 1

Zusätzliche Informationen
Erwartete Teilnehmerzahl: 25, Maximale Teilnehmerzahl: 30

Verwendung in folgenden UnivIS-Modulen
Startsemester WS 2018/2019:
Materialien der Elektronik und Energietechnik mit Vertiefung Organic Electronics (M1_OE_ WW6)
Organische Elektronik NT (OE-NT)

Institution: Lehrstuhl für Werkstoffwissenschaften (Materialien der Elektronik und der Energietechnologie)
UnivIS ist ein Produkt der Config eG, Buckenhof