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Einrichtungen >> Technische Fakultät (TF) >> Department Werkstoffwissenschaften (WW) >> Lehrstuhl für Werkstoffwissenschaften (Materialien der Elektronik und der Energietechnologie) >>

  Grundlagen des Kristallwachstums und der Halbleitertechnologie

Dozent/in
Prof. Dr.-Ing. Peter Wellmann

Angaben
Vorlesung
2 SWS, ECTS-Studium, ECTS-Credits: 3
nur Fachstudium, Sprache Deutsch, englisches Skript
Zeit und Ort: Mo 14:15 - 15:45, 3.71

Studienfächer / Studienrichtungen
WPF MWT-MA-WET ab 1 (ECTS-Credits: 3)
WPF ET-MA-MWT ab 1 (ECTS-Credits: 3)
WPF NT-MA ab 1 (ECTS-Credits: 3)

Voraussetzungen / Organisatorisches
WW Prüfung Nr. 6 / Prüfung: mündlich

Inhalt
Halbleitertechnologie I
In dieser Vorlesung werden die wichtigsten Verfahren zur Herstellung von elektronischen Halb¬leiterbauelementen aus Silizium besprochen. Die wesentlichen Techniken betreffen dabei die Dotierung mittels Diffusion und Ionenimplanta¬tion, die Oxidation von Si zu SiO2, sowie die Metallisierung. Weiterhin werden die Grundprin¬zipien der lateralen Strukturierung mithilfe der Photolithographie und Ätztechniken besprochen.

Empfohlene Literatur
K. Schade:"Mikroelektroniktechnologie" Widmann, Mader, Friedrich:"Technologie hochintegrierte Schaltungen

ECTS-Informationen:
Title:
Fundamentals of Semiconductor technology

Credits: 3

Prerequisites
WW Test No. 6 / oral

Contents
Semiconductor Technology I
This course introduces the most important technologies which are used to fabricate electronic devices based on the semiconductor silicon. The most important techniques to be discussed are doping by diffusion and ion implantation, oxidation of Si to SiO2, as well as metallization. A further important topic is the planar technology, as photolithography and etching techniques.

Literature
K. Schade:"Mikroelektroniktechnologie" Verlag Technik Berlin (1991) Widmann, Mader; Friedrich:"Technologie hochintegrierter Schaltungen, Springer Verlag (1996) A.S. Grove:"Physics and Technology of Semiconductor devices, John Wiley (1976)

Zusätzliche Informationen
Erwartete Teilnehmerzahl: 15, Maximale Teilnehmerzahl: 25
www: http://www.studon.uni-erlangen.de/studon/goto.php?target=crs_359146

Verwendung in folgenden UnivIS-Modulen
Startsemester WS 2014/2015:
Crystal Growth ET (MWT 3) (CGET)
Crystal Growth MWT (M2 - M3) (CGMWT)
Crystal Growth NT (CG NT)
Materialien der Elektronik und Energietechnik mit Vertiefung Crystal Growth (M1_CG_WW6)

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