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Seminar: Reliability Analysis in Embedded Systems (RA-SEM)- Dozentinnen/Dozenten
- Dr.-Ing. Hananeh Aliee, Faramarz Khosravi, M. Sc., Prof. Dr.-Ing. Jürgen Teich
- Angaben
- Seminar
, benoteter Schein, ECTS-Studium, ECTS-Credits: 5,0, Sprache Englisch
Zeit und Ort: n.V.; Bemerkung zu Zeit und Ort: n.V.
- Studienfächer / Studienrichtungen
- WPF I2F-BA-S 5
WPF I2F-BA ab 4
WF IuK-MA ab 1
WF IuK-BA ab 4
WPF CE-MA-SEM ab 1
WPF INF-MA ab 1
- ECTS-Informationen:
- Credits: 5,0
- Zusätzliche Informationen
- www: http://www12.informatik.uni-erlangen.de/edu/reliability_sem
- Verwendung in folgenden UnivIS-Modulen
- Startsemester SS 2017:
- Seminar: Reliability Analysis in Embedded Systems (RA-SEM)
- Institution: Lehrstuhl für Informatik 12 (Hardware-Software-Co-Design)
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UnivIS ist ein Produkt der Config eG, Buckenhof |
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