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Seminar Messen, Charakterisieren und Prüfen in der Elektronikfertigung (SemMCP)- Dozentinnen/Dozenten
- Prof. Dr.-Ing. Klaus Helmreich, Dr.-Ing. Gerald Gold, Mark Sippel, M. Sc.
- Angaben
- Hauptseminar
2 SWS, benoteter Schein, Anwesenheitspflicht, ECTS-Studium, ECTS-Credits: 2,5, Sprache Deutsch, Anmeldung und Information: per e-mail an einen der Dozenten
Zeit und Ort: Mo 14:00 - 15:30, 0.111
Vorbesprechung: 8.5.2017, 14:00 - 15:30 Uhr, Raum 0.111
- Studienfächer / Studienrichtungen
- WF EEI-MA-MIK 1-4
WF EEI-MA 1-4
- ECTS-Informationen:
- Credits: 2,5
- Zusätzliche Informationen
- Schlagwörter: Entwurf, Test, Charakterisierung, Messen, Leiterplatten, Schaltungen
Erwartete Teilnehmerzahl: 8, Maximale Teilnehmerzahl: 12
- Verwendung in folgenden UnivIS-Modulen
- Startsemester SS 2017:
- Seminar Messen, Charakterisieren und Prüfen in der Elektronikfertigung (SemMCP)
- Institution: Lehrstuhl für Hochfrequenztechnik
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