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Chair of Electron Devices (Prof. Dr. Frey)

 

Anleitung zum wissenschaftlichen Arbeiten

AWA; 4 SWS; n.V.
  Frey, L.  
 

Ausgewählte Kapitel der Silicium-Halbleitertechnologie

SEM; 2 SWS; ben. Schein; ECTS: 2,5; Di, 14:00 - 16:15, 0.111; Vorbesprechung: 13.10.2015, 14:15 - 15:00 Uhr, 0.111
WPF ME-DH-SEM ab 6
WPF EEI-BA-MIK 5-6
WPF EEI-MA-MIK 1-4
WPF ME-BA-SEM 3-6
Scharin, M.  
 

Einführung in die gedruckte Elektronik [GedrElektr]

VORL; 2 SWS; Schein; ECTS: 2,5; Di, 8:15 - 9:45, 0.111
  Jank, M.  
 

Exkursion "Technologie der Silicium-Halbleiterbauelemente"

EX; 1 SWS; Schein; Zeit und Raum n.V.
  Polster, S.  
 

Forschungspraktikum am LEB

SL; Schein; ECTS: 5; Nur für EEI Master; Weitere Informationen über StudOn unter: <link wird noch eingefügt>; Nach Vereinbarung; Nur für EEI Master; Weitere Informationen über StudOn unter: <Link wird noch eingefügt>
  Dirnecker, T.  
 

Halbleiterbauelemente

VORL; 2 SWS; ECTS: 5; Physikalische Grundlagen der Halbleiterbauelemente; Di, 10:15 - 11:45, H9; Einzeltermine am 16.10.2015, 23.10.2015, 10:15 - 11:45, H8
WPF MT-MA-MEL ab 1
PF EEI-BA 3
PF BPT-BA-E 3
PF WING-BA-IKS 5
WPF MT-BA-BV ab 5
Frey, L.  
 

Tutorium Halbleiterbauelemente

TUT; 2 SWS; Di, 18:15 - 19:45, H9; Erster Termin: 01.12.2015
PF EEI-BA 3
PF BPT-BA-E 3
PF WING-BA-IKS 5
Stolzke, T.  
 

Übungen zu Halbleiterbauelemente

UE; 2 SWS; Fr, 10:15 - 11:45, H8
WPF MT-MA-MEL ab 1
PF EEI-BA 3
PF WING-BA-IKS 5
PF BPT-BA-E 3
WPF MT-BA ab 5
Stolzke, T.  
 

Integrierte Schaltungen, Leistungsbauelemente und deren Anwendungen [SEM_POWERDEVICES]

SEM; ben. Schein; ECTS: 2,5; Fr, 14:15 - 15:45, 0.111; Bitte beachten Sie den Termin zur Vorbesprechung; Vorbesprechung: 16.10.2015, 13:00 - 14:00 Uhr, 0.111
  Dirnecker, T.
u.a.
 
 

Kolloquium zur Halbleitertechnologie und Messtechnik

KO; 1 SWS; Mo, 17:15 - 18:00, Hans-Georg-Waeber-Saal; Siehe Vortragsliste auf der Homepage des LEB.
  Bauer, A.  
 

Leistungselektronik im Fahrzeug und Antriebsstrang [LE KFZ]

VORL; 4 SWS; ECTS: 5; Die Veranstaltung beinhaltet Vorlesungs- und Übungseinheiten; Mo, 8:15 - 9:45, 10:15 - 11:45, Hans-Georg-Waeber-Saal; Vorlesung: Mo., 8:15-09:45 Uhr; Übung: Mo., 10:15 -11:45 Uhr
WPF BPT-MA-E 1-3
WPF ME-BA-MG3 3-6
WPF EEI-BA-MIK 5-6
WPF EEI-MA-MIK 1-3
WF EEI-BA ab 5
WF EEI-MA ab 1
WPF ME-MA-MG3 1-3
März, M.  
 

Leistungshalbleiterbauelemente

VORL; 2 SWS; ben. Schein; ECTS: 5; Do, 16:00 - 17:30, 0.111
WF ME-DH-VF11 5-10
WPF ME-BA-MG3 3-6
PF EEI-BA-LE 5-6
WPF EEI-BA-EuA 5-6
PF EEI-MA-LE 1-4
WPF EEI-MA-EuA 1-4
WPF ME-MA-MG3 1-3
WPF BPT-MA-E 1-3
Erlbacher, T.  
 

Übung zu Leistungshalbleiterbauelemente

UE; 2 SWS; Erster Übungstermin in der 2. Vorlesungswoche; Mi, 12:15 - 13:45, 0.111; ab 21.10.2015
WF ME-DH-VF11 5-10
WPF ME-BA-MG3 3-6
PF EEI-BA-LE 5-6
WPF EEI-BA-EuA 5-6
WPF EEI-MA-EuA 1-4
PF EEI-MA-LE 1-4
WPF ME-MA-MG3 1-3
WPF BPT-MA-E 1-3
Albrecht, M.  
 

Optical Lithography: Technology, Physical Effects, and Modelling

VORL; 2 SWS; Do, 10:15 - 11:45, Hans-Georg-Waeber-Saal
WF EEI-MA ab 1
WF ME-DH ab 7
WF AOT-GL ab 1
PF NT-MA 1
Erdmann, A.  
 

Übung zu Optical Lithography

UE; 2 SWS; Für Master AOT verpflichtende Zusatzveranstaltung, für andere Studiengänge freiwillig; Do, 12:15 - 13:45, Hans-Georg-Waeber-Saal, 0.157-115; On 29th Oct, 19th Nov and 10th Dec the course starts only at 13.00.
WF AOT-GL ab 1
PF NT-MA 1
Erdmann, A.  
 

Praktikum Halbleiter- und Bauelementemesstechnik

PR; 3 SWS; Schein; ECTS: 2,5; Voraussetzung: Vorlesungen Technologie integrierter Schaltungen und/oder Halbleiter- und Bauelementemesstechnik; Das Praktikum findet ggf. als Blockpraktikum in der vorlesungsfreien Zeit statt. Termin nach Vereinbarung. Anmeldung über StudOn; Vorbesprechung: 23.10.2015, 14:00 - 14:30 Uhr, BR 1.161
WPF EEI-BA-MIK 5-6
WPF EEI-MA-MIK 1-4
WPF ME-DH-PEEI 5-10
Dirnecker, T.
Krach, F.
 
 

Praktikum Mikroelektronik [PrakMikro]

PR; 3 SWS; Schein; ECTS: 2,5; Nur für Studenten im Bachelorstudium EEI mit Studienrichtung Mikroelektronik belegbar!!; Vorbesprechung: 13.10.2015, 10:00 - 11:30 Uhr, 0.111
WPF EEI-BA-MIK 5-6 Scharin, M.  
     n.V.    Krach, F. 
 Versuchstermine werden in der Vorbesprechung festgelegt
     n.V.    Frickel, J.
Glein, R.
 
 Versuchstermine werden in der Vorbesprechung festgelegt
     n.V.    Röber, J. 
 Versuchstermine werden in der Vorbesprechung festgelegt
 

Praktikum Technologie der Silicium-Halbleiterbauelemente [Prak TeSi]

PR; 3 SWS; Schein; ECTS: 2,5; Hinweis: Das Praktikum wird im Wintersemester 2015/16 nicht angeboten; Zeit und Raum n.V.
WPF ME-DH-PEEI ab 5
WPF EEI-MA-MIK 1-4
WPF EEI-BA-MIK 5-6
WPF EEI-BA-LE 5-6
WPF EEI-MA-LE 1-4
WPF ME-MA ab 1
Dirnecker, T.  
 

Reinraumpraktikum [RRPrak]

PR; 6 SWS; ECTS: 5; Teilnahme an der Vorbesprechung am 16.10. ist verpflichtend! Anmeldung bei StudOn notwendig. Praktikumszeiten donnerstags werden nach Gruppeneinteilung bekanntgegeben.; Vorbesprechung: 16.10.2015, 14:00 - 15:30 Uhr, Hans-Georg-Waeber-Saal
PF NT-BA 5 Scharin, M.
Matthus, Ch.D.
Dirnecker, T.
 
     Do8:00 - 9:00, 13:00 - 14:000.111  Matthus, Ch.D. 
     Do8:00 - 9:00, 13:00 - 14:00BR 1.161  Scharin, M. 
     Do
Do
9:00 - 13:00
14:00 - 18:00
BR 1.161, 0.111
BR 1.161
  Matthus, Ch.D.
Scharin, M.
 
 Findet u.a. im Reinraum des LEB statt. Gruppeneinteilung am Semesterbeginn.
 

Seminar über Bachelorarbeiten [Sem BA]

SEM; 2 SWS; ECTS: 2,5; Fr, 10:15 - 11:45, 0.111
  Dirnecker, T.  
 

Seminar über Masterarbeiten (Sem MA)

SEM; 2 SWS; Fr, 12:15 - 13:45, 0.111; (Termine werden bekannt gegeben und sind auf der Homepage des Lehrstuhls zu finden
  Matthus, Ch.D.  
 

Technik der Halbleiterfertigungsgeräte

VORL; 2 SWS; ben. Schein; ECTS: 2,5; Di, 10:15 - 11:45, Raum n.V., (außer Di 10.11.2015, Di 17.11.2015, Di 1.12.2015, Di 8.12.2015, Di 15.12.2015); Die Vorlesung findet im Seminarraum 2 am Fraunhofer IISB (Schottkystr. 10, 1. OG) statt. Termin am 22.12.: Reinraumbesichtigung; Vorbesprechung: 14.10.2015, 15:15 - 16:00 Uhr
WF EEI-MA ab 1
WF EEI-BA ab 5
WPF ME-BA-MG10 3-6
WPF ME-MA-MG10 1-3
WF WW-DH-EL 7-13
Pfitzner, L.
Schmutz, W.
 
 

Technologie integrierter Schaltungen

VORL; 3 SWS; ECTS: 5; benoteter Schein möglich; Di, 16:00 - 18:15, Hans-Georg-Waeber-Saal; Einzeltermine am 3.11.2015, 17.11.2015, 16:00 - 18:30, H6
WPF BPT-MA-E 1-3
PF EEI-BA-MIK 5-6
WPF EEI-BA-MIK 5-6
PF EEI-MA-MIK 1-4
WPF EEI-MA-MIK 1-4
PF INF-NF-EEI 5
WPF ME-BA-MG4 3-6
WPF ME-MA-MG4 1-3
WF NT-MA ab 1
Frey, L.  
 

Übung zu Technologie integrierter Schaltungen

UE; 1 SWS; Veranstaltung nach Absprache evtl. 14-tägig; Mo, 16:15 - 17:45, H6, 0.111; Die Übung findet 14-tägig als 2-stündige Veranstaltung statt. Der Beginn der Übung wird in der Vorlesung bekannt gegeben,
PF EEI-BA-MIK 5-6
WPF EEI-BA-MIK 5-6
PF EEI-MA-MIK 1-4
WPF EEI-MA-MIK 1-4
PF INF-NF-EEI ab 5
WPF ME-BA-MG4 3-6
WPF ME-MA-MG4 1-3
WF NT-MA ab 1
WPF BPT-MA-E 1-3
Matthus, Ch.D.  
 

Technologie medizinischer Mikrosysteme

VORL; 2 SWS; ECTS: 2,5; Mo, 14:15 - 15:45, 0.111
WPF MT-MA-MEL ab 2 Dirnecker, T.  
 

Virtuelle Vorlesung Halbleiterbauelemente (vhb)

VORL; 4 SWS; enthält 2 SWS Übung; in Kooperation mit Prof. Schmidt-Landsiedel (TU München), Anmeldung bei der virtuellen Hochschule Bayern (vhb)
  Ryssel, H.
u.a.
 
 

Virtuelle Vorlesung Technologie und Architektur mikroelektronischer Schaltungen (vhb)

VORL; 4 SWS; enthält 2 SWS Übung; Anmeldung bei der virtuellen Hochschule Bayern (vhb)
  Ryssel, H.  
 

Zuverlässigkeit und Fehleranalyse integrierter Schaltungen

VORL; 2 SWS; ben. Schein; ECTS: 4; Mi, 16:15 - 17:45, 0.111
WPF BPT-MA-E 1-3
WPF EEI-BA-MIK 5-6
WPF EEI-MA-MIK 1-4
Pichler, P.  
 

Übung zu Zuverlässigkeit und Fehleranalyse integrierter Schaltungen

UE; 1 SWS; ben. Schein; Erster Termin der Übung wird in der Vorlesung bekannt gegeben.
WPF BPT-MA-E 1-3
WPF EEI-BA-MIK 5-6
WPF EEI-MA-MIK 1-4
Pichler, P.  


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